​此类渐变和低效元件的难于检测，主要由两个原因造成：

1、检测工具的局限。

最常用检测工具为数字和指针式万用表，高电压和大电流，不能由万用表提供，对有些器件，如直流回路的储能电容电级引线电阻的出现，须在高电压和大电流的状态下进行检测，才能得出结论。电容表和万用表确实对此无能为力。

2、检测方法的问题。检测元器件，往往进行单一性的检测，如仅仅检测元件引脚电阻，或仅仅检测在线电压;或习惯用一只表检测其好坏。

应该拓展检测手段和检测方法。如对逆变模块和高耐压元件的检测，可利用耐压测试仪或借用绝缘摇表，对元件进行电压击穿测试。

如检测光耦器件，可从线路板上拆下，用一只指针式万用表的x10k挡测试输入侧正向电阻(同时提供正向导通电流)，用一只万用表，同时测试输出侧三极管的导通电阻，将测试结果与好的同型号光耦器件相对照，则不难检测出低效元件。或者干脆用外加电源，为光耦送入输入10mA电流，对比测试其输出电阻，则更易得出正确的判断。

变频器元器件的损坏，如功率模块的炸裂、短路或开路，电容器的喷液、鼓顶，IC电路的击穿性损坏，电阻元件的断路等，不但用万用表从元件的电阻值或在线电压值，能方便地检测出来，而且有些损坏，是仅凭肉眼观察其外形的色形与形变，即能得出明确的判断。而元器件的性能劣变，并非为短路或断路的“明显损坏”的状态，不但从器件外形上看不出明显异常，而且在有时候，甚至万用表及其它测量设备对其好坏，都无能为力。此类损坏，如大电容电解电容的引线电阻变大，小容量电容的介质损耗加大，高频特性变坏，和晶体管放大能力变差，二极管的整流特性变坏等，我们用万用表和电容表检测都是好的，但故障元件在电路的实际工作中“表现不佳”，好像一个人带着不良情绪在勉强地干工作，因而工作中必然漏洞百出，很难圆满地完成工作任务。

变频器元器件的性能变劣，不是一个质变现象，而是一个量变现象。经过多年使用的机器，像电容器的电解液干涸，三极管的放大能力降低，元器件引脚的氧化等，是随着时间的推移而渐渐变化的，因而检修“老机器”，更需要注意这方面的问题。

对这类元器件损坏的定义，用老化、低效、失效、性能变劣比较适宜，用击穿、断路等就不合适了。元器件的性能劣变，其劣变的程度往往差异甚大，表现出的故障现象和检测难度也千变万化，不易掌握，而往往表现为疑难故障，或称为“软故障”，让人挠头——查不出坏件，但电路显然又不是正常状态!检修这类故障，需要检修者电子电路基本功的扎实、多年积累的经验，甚至对检修者的心理素质，也是一种考验。

好在这类故障毕竟是少数，一般还是元件“硬性损坏”的为多。如果维修者乐于接受这种挑战，对这种软故障的检修，也会转化为一种乐趣，检修的过程甚至也可以成为一种享受的过程(普通故障上来就换件，有啥子乐趣可言呢?)，让人非常有成就感。我们在长期的检修工作中，总会遭遇这样的故障，可以干脆不修此类机器，也可以接受下来，享受一把，有什么不好呢?

有些元件器，厂家已给出使用年限，如变频器中的散热风扇和电解电容，厂家给出的更换年限为8-10年。风扇是个旋转部件，旋转部件如轴承，长期使用总有磨损的;为了提升电容量，电解电容内部注有电解液，因而有反而漏电流产行，安装使用时应注意其极性。同时，随使用年限增多，电解液必然逐渐干涸，使电容量下降。到达使用年限后，即使变频器未坏，从原则上讲，也应将风扇和电解电容换掉，以防患于未然。

风扇损坏，比较直观，这里以故障实例谈一下直流回路储能电容的损坏。

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